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產(chǎn)品展示
菲希爾XDL230
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230菲希爾臺式鍍層測厚及材料分析儀技術(shù)說明
【菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230創(chuàng)新設(shè)計理念】
本儀器采用人性化操作界面設(shè)計，配備三軸精密定位系統(tǒng)：手動X-Y工作臺與電動Z軸協(xié)同運作，結(jié)合高分辨率彩色視頻顯微系統(tǒng)（集成十字線瞄準(zhǔn)功能），可實現(xiàn)測量點亞微米級精確定位。創(chuàng)新視頻觀察窗口支持實時監(jiān)測測量進程，測量倉底部特殊開槽設(shè)計突破傳統(tǒng)尺寸限制，可容納長寬超出臺體的大型扁平樣品（如整塊PCB電路板），顯著擴展工業(yè)應(yīng)用場景。
【菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230核心檢測性能】
檢測原理：能量色散型X射線熒光光譜（EDXRF）
元素覆蓋：氯（Cl-17）至鈾（U-92）分析
多元素檢測：通過WinFTM BASIC軟件擴展，支持24元素同步測定
測量方向：垂直向下非接觸檢測
分辨率極限：超薄鍍層（納米級）與復(fù)雜溶液體系精準(zhǔn)分析
【菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230精密檢測系統(tǒng)】
X射線源配置：
鎢靶X射線管（鈹窗透射）
智能三檔高壓輸出：30kV/40kV/50kV可調(diào)
多規(guī)格準(zhǔn)直器可選：
? 標(biāo)準(zhǔn)0.3mm孔徑
? 可選0.1mm/0.2mm微孔
? 0.3×0.05mm矩形微束
