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泰勒霍普森粗糙度儀標準款信息
更新時間：2025-12-11 點擊次數：53次
Surtronic DUO粗糙度儀：雙參數同步測量的革新之作
Surtronic DUO粗糙度儀代表了表面粗糙度測量技術的一次重要革新。特點是能夠同時測量并顯示Ra和Rz兩個關鍵粗糙度參數，改變了傳統(tǒng)設備需分次測量的工作流程。這種雙參數同步顯示功能，讓操作人員能夠即時獲取更全面的表面特征信息，大幅提升了檢測效率。
該儀器采用了高精度壓電式傳感器，測量范圍覆蓋0.05-25μm Ra，分辨精度達到0.001μm，確保了測量結果的可靠性和重復性。人性化的設計體現在其配備的彩色顯示屏上，測量數據、統(tǒng)計結果和曲線圖譜一目了然。內置的大容量存儲單元可記錄上千組測量數據，并通過USB接口輕松導出，適配現代化質量管理的數據追溯需求。
在實際工業(yè)應用中，Surtronic DUO展現出的適應性。無論是在機械制造現場的快速抽檢，還是實驗室內的精密分析，它都能提供值得信賴的測量結果。其堅固的外殼設計和符合人體工學的握持感受，保障了在各類工業(yè)環(huán)境下的持久穩(wěn)定表現，成為質量工程師和檢測人員的理想伙伴。
