XAN 220 金屬分析 X 射線熒光測量儀信息
更新時(shí)間:2025-06-03 點(diǎn)擊次數(shù):71次
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220 是一款專為貴金屬分析優(yōu)化的用戶友好型臺式能量色散 X 射線熒光(EDXRF)測量儀,可對珠寶、硬幣、貴金屬及其合金的成分和涂層厚度進(jìn)行快速無損分析。其創(chuàng)新設(shè)計(jì)與智能化功能融合,為實(shí)驗(yàn)室及生產(chǎn)現(xiàn)場提供精準(zhǔn)、高效的檢測解決方案。
自下而上測量架構(gòu):
X 射線源與半導(dǎo)體探測器集成于儀器下腔室,通過透射式窗口支撐樣品,測量方向從樣品下方穿透,無需人工調(diào)整角度,尤其適合戒指、硬幣等不規(guī)則形狀樣品的快速定位。
高清視頻顯微鏡輔助:
內(nèi)置帶變焦功能與十字準(zhǔn)線的視頻顯微鏡,可實(shí)時(shí)放大樣品細(xì)節(jié)(如珠寶鑲嵌點(diǎn)、硬幣齒紋),精準(zhǔn)鎖定微米級測量區(qū)域,避免因定位偏差導(dǎo)致的檢測誤差。
WinFTM® 專業(yè)分析軟件:
一鍵式操作:從測量參數(shù)設(shè)置(30/40/50kV 三檔電壓可調(diào))、數(shù)據(jù)采集到多元素濃度 / 涂層厚度結(jié)果生成全程自動(dòng)化,兼容固體、液體及多層涂層樣品。
可視化數(shù)據(jù)分析:以圖表形式動(dòng)態(tài)呈現(xiàn)元素占比(如金、銀、鉑含量)、涂層厚度分布(如銠鍍層均勻性),支持歷史數(shù)據(jù)對比,便于批量樣品質(zhì)量追溯。
合規(guī)性報(bào)告生成:內(nèi)置DIN ISO 3497(貴金屬純度測定)與ASTM B 568(鍍層厚度測量)標(biāo)準(zhǔn)模板,自動(dòng)匹配檢測結(jié)果,簡化第三方認(rèn)證流程。